定制雙面探針臺(tái)/I-V測(cè)試/晶圓和PCB板測(cè)試

Name: 定制雙面探針臺(tái)/I-V測(cè)試/晶圓和PCB板測(cè)試Huace-8D
Brand: 華測(cè)
Price: 80000 CNY
Availability: InStock

產(chǎn)品型號(hào)：Huace-8D

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2025-12-17

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

定制雙面探針臺(tái)/I-V測(cè)試/晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。

產(chǎn)品特性Product characteristics

品牌	華測(cè)

雙面探針臺(tái)

雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級(jí)功能。可廣泛應(yīng)用于集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽(yáng)能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。

技術(shù)參數(shù)型號(hào)		Huace-8D雙面探針臺(tái)
臺(tái)體	chuck尺寸	8英寸
	水平旋轉(zhuǎn)	卡盤可以360度旋轉(zhuǎn)，細(xì)調(diào)精度不大于0.1度，帶有鎖定旋鈕
	XY移動(dòng)行程	*8英寸8英寸**
	XY移動(dòng)精度	10um/1um可選
	樣品固定	樣品夾定，尺寸可調(diào)；真空吸附固定，卡盤多圈吸附環(huán)可獨(dú)立控制
	雙面點(diǎn)針平臺(tái)	氣動(dòng)升降平臺(tái)升起為雙平臺(tái)，落下可做單平臺(tái)使用
	平臺(tái)針座數(shù)量	單平臺(tái)最多放置8個(gè)CB-200針座
	卡盤結(jié)構(gòu)	普通/高溫/帶背電極等結(jié)構(gòu)卡可選擇
溫控系統(tǒng)	溫度范圍	室溫~300℃ (400℃,500℃可選）
	溫控精度	0.1℃
	溫控穩(wěn)定性	±1℃
	溫控傳感器	100Ω 鉑電阻傳感器
正面光學(xué)系統(tǒng)	CCD	200W/500W/1200W像素可選（正反面）
	顯微鏡類型	單筒/體視/金相顯微鏡可選
	放大倍率	16X-100X/20X-2000X
	顯微鏡調(diào)節(jié)	*水平方向繞立柱旋轉(zhuǎn)X-Y移動(dòng)22英寸，Z軸行程50.8mm**
	光源	外置LED環(huán)形光源/同軸光源
背面光學(xué)系統(tǒng)	顯微鏡類型	L型單筒顯微鏡
	連續(xù)變倍比	6.3:1
	放大倍率范圍	0.75–5X
	放大倍率	*315X（計(jì)算公式：變焦CCD顯示器）*
	顯微鏡調(diào)節(jié)	萬(wàn)向移動(dòng)
	光源	同軸光源

技術(shù)參數(shù)型號(hào)		臺(tái)體配件技術(shù)參數(shù)
探針座	X-Y-Z移動(dòng)行程	*121212mm*
	移動(dòng)精度	10/2/0.7/0.5/0.35um可選
	固定方式	磁力吸附/真空吸附可選
探針夾具	線纜	同軸線/三軸線可選
	漏電精度	10pA/100fA
	探針固定方式	彈簧固定/管狀固定
	接頭類型	BNC/三同軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子等可選
探針	材質(zhì)	鎢鋼/鈹銅可選
	針尖直徑	0.2/1/2/5/10/20/50/100um可選
探針可選配件	屏蔽箱
	高壓測(cè)試配件
	光學(xué)防震桌
	射頻測(cè)試配件
	鍍金卡盤
	轉(zhuǎn)接頭
	探針卡夾具
	其他

公司主營(yíng)產(chǎn)品：

功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。

定制雙面探針臺(tái)/I-V測(cè)試/晶圓和PCB板測(cè)試