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        基礎(chǔ)信息Product information
        產(chǎn)品名稱:

        華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

        產(chǎn)品型號(hào):

        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

        所在地:北京市

        更新日期:2024-06-07

        產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

        華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng),可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量的接口。

        產(chǎn)品特性Product characteristics
        品牌華測(cè)

        華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)




        一、華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢(shì)

        本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量的接口。

        華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)


        華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)



        二、華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)定制化服務(wù)

        華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

             HCTD3000鐵電測(cè)試系統(tǒng)具有寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍,性價(jià)比高,。主機(jī)內(nèi)置電壓檔位有±10V,±30V,±100V,±200V和±500V可選。在±10V的內(nèi)置電壓下,電滯回線測(cè)試頻率達(dá)到2MHz;在±500V的內(nèi)置電壓下,電滯回線測(cè)試頻率達(dá)到±2kHz。此系統(tǒng)還可外部擴(kuò)展電壓到4kV和10kV,也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電和磁電測(cè)試功能。此系統(tǒng)包含Vision基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV和10kV,Premier II在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線,脈沖,漏電流,IV和CV測(cè)試,也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、磁電測(cè)試和晶體管特性測(cè)試功能。



        三、華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置

        Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率;

        PUND 脈沖測(cè)試:小脈沖寬度2μs,小上升時(shí)間1 μs;Fatigue 疲勞測(cè)試,大頻率300kHz;

        Retention 保持力測(cè)試;

        Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試;

        Imprint 印跡;

        Leakage current 漏電流測(cè)試:100fA to 1A

        華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)



        四、華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)更多測(cè)試功能

        華測(cè)功能復(fù)合材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)



















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