低溫塊體壓電分析儀/其他

產(chǎn)品型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-10-25

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

低溫塊體壓電分析儀應(yīng)用：

材料性能的研究與開(kāi)發(fā)
器件質(zhì)量
大信號(hào)和小信號(hào)測(cè)試
溫度依賴性測(cè)試
可靠性和疲勞試驗(yàn)
漏電流測(cè)試

優(yōu)點(diǎn)：

一個(gè)系統(tǒng)就可以進(jìn)行塊體陶瓷材料的壓電和鐵電性能進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)，如傳感器和執(zhí)行器
單一軟件進(jìn)行外部硬件控制（如溫度控制器、高壓放大器、位移傳感器、示波器）和數(shù)據(jù)采集
遠(yuǎn)程接入和腳本控制
選件可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)庫(kù)連接（ODBC）方便對(duì)材料/設(shè)備進(jìn)行表征
針對(duì)用戶應(yīng)用和要求的硬件
升級(jí)服務(wù)，用戶支持

特點(diǎn)：
支持的硬件：
內(nèi)置或外置的高壓放大器（+/-100V到+/-10 kV）
塊體陶瓷樣品夾具
溫度控制器和溫度腔
位移傳感器（如激光干涉儀、電容或電感）
外置鎖相放大器或阻抗橋

軟件：
Windows 7操作系統(tǒng)
通過(guò)GPIB或以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程接入和腳本控制
通過(guò)ODBC接口的數(shù)據(jù)庫(kù)連接
測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)ASCII形式輸出
測(cè)試數(shù)據(jù)交換通過(guò)aixPlorer軟件或Resonance Analyzer。

測(cè)試功能：
大信號(hào)電極化和位移（單一極化和雙化）
小信號(hào)電容、損耗、壓電系數(shù)與單一和雙極直流偏壓
電性能和機(jī)電性能隨溫度的變化研究
熱釋電測(cè)試
漏電流測(cè)試
疲勞測(cè)試
阻抗測(cè)試
用戶定義激勵(lì)波形

低溫塊體壓電分析儀本系統(tǒng)主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的電性能和機(jī)電性能的表征。

低溫塊體壓電分析儀/其他

低溫塊體壓電分析儀/其他