電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

　　電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。分析儀采用電容放電電路來(lái)測(cè)量更符合電介質(zhì)充放電原理，采用高壓開(kāi)關(guān)，可以承受10kV高壓，寄生電容小，動(dòng)作時(shí)間短，具備多種測(cè)試功能，能夠?yàn)檠芯咳藛T的測(cè)試工作提供可靠的設(shè)備基礎(chǔ)。
 

　　一、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
 

　　1.擴(kuò)展性強(qiáng)：可外接高壓放大器或高壓直流電源；
 

　　2.適用多種樣品測(cè)試：定制載樣平臺(tái)，可適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試；
 

　　3.可以作為一個(gè)信號(hào)源產(chǎn)生任意波形；
 

　　4.可以進(jìn)行疲勞測(cè)試；
 

　　5.本系統(tǒng)采用高壓開(kāi)關(guān)，通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程，開(kāi)關(guān)可以承受10kV高壓，寄生電容小，動(dòng)作時(shí)間短；
 

　　6.電流電壓：電壓10kV，電流5mA；
 

　　7.通過(guò)電流探頭檢測(cè)放電電流，可達(dá)100A；
 

　　8.通過(guò)示波器采集數(shù)據(jù)，并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度；
 

　　9.可以進(jìn)行變溫測(cè)試，RT~250℃；
 

　　10.可用于極化材料之用；
 

　　11.實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過(guò)阻尼兩種測(cè)試模式，欠阻尼測(cè)試時(shí)，放電回路短路，不使用電阻負(fù)載，過(guò)阻尼測(cè)試時(shí)，使用較大的無(wú)感電阻作為放電負(fù)載。
 

　　二、產(chǎn)品參數(shù)
 

　　1.電流探頭帶寬：120MHz
 

　　2.峰值電流：0-100A，150 A(多種電流可監(jiān)測(cè))
 

　　3.電流采集精度：1mA
 

　　4.高壓源模塊：3kV，5kV，10kV，15kV多種可選(電流：0-5mA)
 

　　5.開(kāi)關(guān)適用：100萬(wàn)次，耐壓15kV
 

　　6.溫控范圍：0-200℃
 

　　7.溫度穩(wěn)定性和精度：0.1℃
 

　　8.測(cè)試樣品：薄膜，厚膜，陶瓷，玻璃等
 

　　9.其他：可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試
 

　　三、應(yīng)用領(lǐng)域
 

　　華測(cè)儀器電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能，應(yīng)用領(lǐng)域包括介電儲(chǔ)能材料研究、‌高電壓放電性能評(píng)估、‌電滯回線(xiàn)測(cè)量、‌密度計(jì)算、‌樣品放電性能測(cè)試、‌材料放電性能評(píng)估、‌負(fù)載釋放研究以及儲(chǔ)能材料應(yīng)用研究。